射频LCR表 Model 11090-030

• 测试参数：Z、θz、 Y、 θy、 R、 X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp、Rs、Rp、D、Q
• 测试频率：100kHz~300MHz
• 测试输出能量：-40dBm~1dBm
• 快速量测：0.5 ms
• 阻抗量测范围：100mΩ~5kΩ
• 测试讯号监测功能
• 比较与分类选别功能
• 开短路与载入补偿功能
• 标准的Handler、RS-232C、 GPIB 、 LAN 、USB、USB(USBTMC)介面

Chroma 11090-030射频LCR表为一提供贴片电感及射频滤波器等被动元件高频量测评估解决方案，兼具精准与快速两大特色的精密测试仪器。涵盖量测项目Z、θz、 Y、 θy、 R、 X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp、Rs、Rp、D、Q等各种被动元件测试所需的主、副参数。 100kHz ~ 300MHz的宽广测试频率范围，适合研发与品保单位分析被动元件于不同频率下的特性。 0.8%的基本量测准确度，让量测结果不仅呈现高稳定性且具备高可靠性。只需0.5ms的快速量测，可搭配自动化机台，有效率地大幅提高产量。

Chroma 11090-030除了具备Chroma LCR表一贯的优异量测性能之外，也继承了各种便利的功能设计。弹性的显示位数设定，可依使用者对于量测解析度的需求，调整成适合的显示方式。触发延迟、量测延迟与平均次数等时序设定，让量测能紧密配合自动化机台动作，并在有限的量测时间内取得最精确的量测结果。

Chroma 11090-030的另一大特色是完善的触控萤幕介面配置。

标准配备介面包含：
(1) 可供软硬体设定量测条件、触发量测动作、判定量测结果与搜集量测数据的Handler与RS-232C介面
(2) 可储存仪器设定的USB储存介面以及依使用者在软体通讯上的需求，GPIB或LAN介面。

Chroma 11090-030 藉由全面性的设计考量与重点式的功能强化，不论是在产品特性研发分析、自动化产线快速测试或是各式零件进出料管理，皆为完善的测试解决方案。

• 量测模式
• 阻抗量测与准确度
• 判定设定
• 校正 / 补偿
• 周边配件
• 传输介面
• 面板说明

单点量测 (Point Mode)

11090-030量测模式中的单点量测功能，可将量测结果透过分类及比较的设定，快速提供每颗待测物在单点频率下各电气参数的判定结果并具有快速分类功能。另外，量测结果可透过运算功能设定，经过运算后，直接显示与参考值的差异值。 [图1]

▲ [图1] 比较功能- Bin页面
▲ [圖2] 运算-误差模式(Δ%)

多点量测 (List Mode)

11090-030多点量测功能，其量测点数设定最多401点，提供使用者更详细且精准的量测数值，同时可以选择表格数列或图表的不同显示方式。 11090-030能透过手动或是远距模式来进行操作，透过触控面板将多点测试条件输入及操作，显示各测点的量测结果。远距模式可经由HANDLER、LAN、RS-232、GPIB或USB (B-Type)介面来进行控制。

▲ [图3] 量测结果 – 表格区
▲ [图4] 量测结果 – 图表区(共同显示)
▲ [图5] 量测结果 –图表区(单独显示)

Chroma 11090-030采用RF-IV测量方法量测待测物 (DUT) 的电压和电流，与一般网络分析仪相比，11090-030更能够在较宽的阻抗范围内进行更准确的测量，其优势在于可测量的电感值非常小，约为数个nH。

▲ [图6] 量测时间Slow, 测试讯号 1dBm, 平均次数≧8, at 23℃

接触检查

11090-030为您提供待测物和自动测试机台之间的测量平面接触故障功能，协助生产线测试中达到更精准的分拣错误，并且使用内置测量功能来进行接触检查，提高了不良品分类的准确性和效率。

(1) Upper：
接触检查上限设定，范围为-100.0EΩ ~ 100.0EΩ。出厂预设值为10.0kΩ。

(2) Lower：
接触检查下限设定，范围为-100.0EΩ ~ 100.0EΩ。出厂预设值为0.0Ω。

分类设定

11090-030 判定设定中的分类设定，使用表格方式呈现。每行代表一个 bin 编号，每列代表每个 bin 的排序条件。当一个bin设置的所有排序条件都满足时，判断结果被排序到该bin。共有 13 个 bin，每个 bin 有四个限制值。频率和测量参数等条件可以在每列中独立设置，使 11090-030 能够满足各种排序需求，包括不同测量频率下的不同参数。

校正 / 补偿套件

11090-030 对于手动测量，提供开路/短路/负载校正套件，如图所示，透过校正套件作为校正标准，提高了测量的准确性。此外校正电气长度补偿与夹具开路/短路补偿完全纠正测试夹具引起的测量误差。这些功能在测量时实现高绝对测量精度平面以及准确测量工作标准。

11090-030 为您提供具有向导功能的校正/补偿方法。校正/补偿向导功能消除了繁琐的校正/补偿程序之错误，让您轻松地将 11090-030 准备好进行精确测量。校正程序可以扣除测量仪器至校正治具基准面之间的误差，测试治具经过校正程序后需进行补偿程序，用以扣除测量仪器至补偿治具基准面之间的误差。依序将Open、Short二种标准补偿件连接治具上，进行各自的补偿值。

▲ [图10] 校正/补偿程序设定
▲ [图11] 校正程序设定
▲ [图12] 补偿程序设定

测量电子元件时，测试治具应适合待测物其形状和尺寸，以获得准确的阻抗测量。 Chroma 11090-030 所兼容的各种测试夹具中，您可以选择适合您待测物的尺寸、形状进行量测。 A110901测试夹具使射频阻抗测量高达 300 MHz。

11090-030 拥有完整的介面配置，其中包含了设定量测条件、触发量测动作、判定量测结果与搜集量测数据的通讯介面， 更包括 LAN、GPIB、USB (B-Type)、RS-232介面与储存介面USB (A-Type)，以及可藉由Handler介面触发量测并将此判断结果传送至外部。

▲ 注*1 : USB接头连接不可用于『行动电源充电』、『手机充电』或是『电流需求超过0.5A』的连接设备。