三温测试分类机 Model 3110-FT

• 适用于终端测试 (Final Test)
• 可设定温度范围-40℃~125℃
• 支持的芯片尺寸从3x3mm到45x45mm
• 具有4个产品分类料盘
• 支持远程控制操作
• 具有测试良率控制功能
• 具有连续自动重测功能
• 具有实时监控产品分类功能
• 整合Chroma混合型冰水机
• 支持TSD温度控制
• 最佳工程三温特性测试平台
• UPH最高可达500pcs
• 控制下压触力在1到10kg (选配)
• Socket温度补偿模块 (选配)
• 可支授系统层级测试 (SLT) (选配)

Chroma 3110-FT为一台适用于IC终端测试(Final Test)工程产品特性及测试开发用途之测试分类设备。

3110-FT支持多种芯片测试，可支持的芯片尺寸从3x3mm到45x45mm。亦可加选远程监控功能，操作者得以在任何地点透过网络操作以增加设备使用率。3110-FT三温测试分类机同时包含预温区，可改善测试时间及产出；配有2个自动分料盘及2个手动分料盘，在仅1.4m²的空间发挥最佳的IC分料能力以节省成本与时间。

整合Chroma混合型冰水机与TEC致冷芯片温度控制器后，3110-FT可于进行测试三温测试时，同时控制壳温及接面温度。

3110-FT可支持大部分产业的标准通信接口以及提供不同种类测试设备的对接方式。可精准控制温度范围从-40℃到125℃。具有易于操作的软件接口以及可快速更换待测产品之设计。将可大幅缩短停机时间而进一步提高使用效率及产能。