自动化系统功能测试机 Model 3260

产品特色

• 可靠的高速Pick&Place分類機

• 同步吸嘴雙取及雙放設計

• 具備處理QFP的能力

• 簡易編輯通訊定義(ECD)功能

• 無測試座損壞的問題

• 浮動頭可有效率衡測試壓力

• IC殘留檢測功能

• 發明專利字號190373, 190377, 1227324 & 125307

• Thermal Control Configurations

• Tri Temp Control

• Close-Loop Active Thermal Control (ATC) Module

• Unity PTC (Passive Thermal Control)

• Cooling Pipe

Chroma 3260是一款新型的测试机可供多组PCB level平行测试的大量生产机具。3260可配合多数不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封装。测试机采用取放的技术，可从JEDEC夹盘来拾取IC，移动到测试位置，然后将测试后产品放置于适当之Tray盘。

Chroma 3260以并排平行方式，进行测试。在高温下具有主动式温度控制(Active Thermal Control)功能，其范围从摄氏50度到125度可测试1至6个测试座。