微型IC测试分类机 Model 3270

产品特色

• 适合CMOS影像感应组件量产需求

• 可靠的高速Pick&Place分类机

• 3x3mm微型IC处理能力

• 浮动头可有效率平衡测试压力

• IC残留检测功能

Chroma 3270是一款创新的微型IC测试分类机，特别适合CMOS影像感应元件(CMOS Image Sensor, CIS)量产所需，Chroma 3270可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封装。 Chroma 3270采用Pick&Place技术，可从JEDEC夹盘来拾取IC，移动到 测试位置，然后将测试后产品置于适当之Tray盘。

Chroma 3270能同时处理32个待测物进行平行测试，并提供50˚C~125˚C高温测试选择。不但能提高产量，提升生产良率，同时大幅降低测试成本。