VLSI 测试系统 Model 3380P

• 50/100 MHz测试频率
• 50/100 Mbps数据速率
• 512数字信道管脚 
  (最高可至576数字信道管脚)
• 并行测试可达512 sites同测数
• 32/64/128M Pattern内存
• 多样弹性VI电源
• 弹性化硬件结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match功能
• 时序频率测试单位 (TFMU)
• AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可选配)
• SCAN向量存储深度(最高2G bits/chain) (可选配)
• ALPG测试选配供内存IC用
• STDF工具支持
• 测试程序/pattern转换器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化Window 7操作系统
• CRAFT C/C++ 程序语言
• 软件接口与3380P/3360P相同
• Direct mount治具可相容于3360P probe-card
• Cable mount治具可相容于3360D与3360P

为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。

3380D/3380P/3380机型为因应高同测(High Parallel Test)功能，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备Any Pins to Any Site高同测功能(512 I/O pin可并行测512个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。

3380P同时具备All-In-One (only Test Head) 的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。

3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。

 满足各种应用范围的芯片测试

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.